Hitachi 材料分析仪

... 快速质量控制 快速分析意味着我们的分析仪可用于多个生产阶段，以快速反馈材料成分和质量。 坚固耐用的设计 自动转盘将样品从关键分析仪部件上移开，以大幅地降低损坏风险，并确保低维护成本。 分析仪由坚固的、经过现场验证的部件和工业级PC构成。这些特点意味着台式XRF系列足够坚固，可以在苛刻的生产设施中使用。 低运行成本 氦的使用和成本保持在低位——大多数测量可以在环境空气中进行。 所需消耗品很少，维护成本非常低，特别是与其他方法（如国际比较项目）相比。

... 快速质量控制 快速分析意味着我们的分析仪可用于多个生产阶段，以快速反馈材料成分和质量。 坚固耐用的设计 自动转盘将样品从关键分析仪部件上移开，以大幅地降低损坏风险，并确保低维护成本。 分析仪由坚固的、经过现场验证的部件和工业级PC构成。这些特点意味着台式XRF系列足够坚固，可以在苛刻的生产设施中使用。 低运行成本 氦的使用和成本保持在低位——大多数测量可以在环境空气中进行。 所需消耗品很少，维护成本非常低，特别是与其他方法（如国际比较项目）相比。

... 2.0 指令的产品。 HM1000A 采用先进的 APCI（大气压化学电离）和质谱技术，快速而低成本地测定样品中邻苯二甲酸酯的总量。如果总量超过 RoHS 2.0 规定的数值，则可以使用更精准的方式进一步分析。 HM1000A 筛选出的达标样品不需要进一步分析，有助于减少精准分析所耗费的大量时间和成本。 为何大家选择 HM1000A？ 单个试样 ...

EA8000A X射线分析仪适用于在锂离子电池生产中进行快速有效的质量控制。 EA8000A集X射线透射成像和X射线荧光分析于一体，可快速检测和识别损害锂离子电池（LiB）性能的金属异物。 为什么选择EA8000A X射线异物分析仪？ 快速分析 创新性地协同使用X射线透射成像与先进的X射线荧光光谱。先透视定位后精准扫描，使得EA8000A的分析速度与单纯扫描的方法相比成倍加快。例如，仅需30分钟便可在200 ...

... 有害物质限制设计的XRF分析仪，15年来一直受到信任，为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量，您可以确保能够满足环境法规的要求。 操作方便 可自动采样 灵活校准以适应新的RoHS标准 自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果 快速测量 大样品舱满足各种样品 视听测量指示器 添加镀层和元素分析的选项 主要功能：适用于RoHS筛查和通用分析的入门级XRF光谱仪 应用领域：・RoHS/ELV合规性筛查・薄膜分析・材料识别・多用途材料分析 RoHS拓展元素 ...

... 设计用于在制造设施中发挥关键作用，其开发旨在应对最新的工艺和质量控制分析挑战。EA1400台式XRF分析仪采用卓越的检测技术，结合创新的X射线光学系统，用于对各种材料（液体、固体、糊状物）进行快速元素分析。可选配真空选配项，实现轻元素分析。通过对来料直至最终产品的分析，EA1400帮助客户确保其产品符合预期，从而优化生产力并将成本降至最低。 主要功能：适用于RoHS筛查和通用分析的高性能多用途XRF光谱仪 应用领域：・多用途材料分析・薄膜分析・快速材料识别・快速RoHS/ELV合规性筛查，及无卤素合规性筛查 ...

X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层，适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析。 X-Strata920 的优势在于其多功能性。您可以从多种配置中进行选择，包括五种基本配置以适应不同尺寸的样品、六种准直器尺寸用于优化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快测量过程同时保持准确性的附加自动化功能。X-Strata920 ...

FT110A 是一款台式 XRF 分析仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合严苛标准。 准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心，而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用，提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 ...

FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间，因此推出了一个有着突破性的分析仪，其可以有效地 "设置 "自己，使得在过程中可以分析更多的零件。 自动化和创新软件是 FT230 分析仪的特点。智能识别模块，如Find My Part™（查找我的样品），意味着操作者只需装载样品，确认零件，FT230 ...

... FT160 的光学和检测器技术专为微光斑和超薄镀层分析而设计，针对微小的特征进行了优化。 用于从安全距离查看分析的大观察窗 测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 标准 IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性镀层检测 用于快速样品设置的自动特征定位 为您的应用优化的分析仪配置选择 在小于 ...