光学轮廓测量仪 IF-Profiler

机械用于航空工程3D

IF-Profiler是一个手持式三维粗糙度测量系统，用于高分辨率测量表面粗糙度。用户只用一个系统就可以测量平面和曲面部件的粗糙度。测量是基于轮廓（ISO 4287）和基于面积（ISO 25178）进行的。轻巧的IF-Profiler由一个三维测量传感器和一个坚固的、同时也是方便的框架组成。符合人体工程学的设计结合了易用性和所需的机械刚度。在最短的三秒钟测量时间内实现可追溯和可重复的测量。 高密度的测量点 高达5亿个测量点，确保了在μm和亚μm范围内的公差和大工作距离的细致测量。Focus-Variation的高测量点密度使操作者能够在高测量量中获得持续的高横向和纵向分辨率。 陡峭侧面的测量 来自不同方向的光线被用来对测量产生积极的影响。最大侧翼角度的测量不受物镜数值孔径的限制。根据不同的表面，用户可以测量坡度角高达87°的表面。 不同的表面反射 SmartFlash允许对具有不同表面特征或反射率的材料进行高分辨率的测量。调制的光线为整个测量区域提供最佳的照明。用户可以测量有光泽的、地面的、粗糙的、反射的和扩散的成分。