表面数据采集系统 QuickScan iX ECA

航空航天用途高速无显示

用于过程中表面检测的强大涡流阵列解决方案 QuickScan iX ECA 采集仪是专为材料生产环境中的表面检测而设计的。其设计与经过现场验证的 QuickScan iX PA 仪器一样，符合可靠的 24 V I/O 工业标准。每个单元最多可连接八个探头。可将多个采集单元组合在一起，进行对探头或速度要求更高的配置。 经得起工业考验 QuickScan iX ECA 仪器是我们为工业检测系统设计的最新一代涡流采集单元。采集单元符合 IP55 标准，可轻松集成到工业环境中。 可扩展，满足高速检测需求 每个单元最多可连接八个探头。对于涉及更多探头或更高速度要求的苛刻配置，可将多个采集单元组合在一起。 激励模式 - 单频或多频模式。 多路复用模式最多可同时对两个频率进行时间多路复用。 线圈驱动器数量 - 2 个独立的发生器输出 输入/时间插槽数量 - 每个智能探头连接器最多 2 个输入 传统连接器最多 8 个输入 仪器总共 8 个输入，每个输入 32 个时隙，总共 256 个时隙 频率范围 - 50 kHz 至 2 MHz 输出阻抗，符合 ISO 15548-1 第 6.2.3 节 - < 1.5 Ω（典型值，480 kHz），电流受限 根据 ISO 15548-1 第 6.2.5 节规定的最大输出负载 - 480 kHz 时典型值高达 9W 探头输入 输入阻抗，16 针连接器，符合 ISO 15548-1 第 6.3.2 节 - 典型值为 850 kΩ