扫描式测厚规 SP-80

MMT用于航空工程

扫描探头每秒可以获得几百个表面点，从而可以测量形状以及尺寸和位置。 扫描测头还可用于获取离散点，其方式与触发式测头类似。 有一系列解决方案可供选择，适用于所有尺寸和配置的坐标测量机。