nikon计量学X-射线ct计算机控制X线断层扫描术XTH225STThe XT H 225 ST是一个计算机控制X线断层扫描术(CT)系统理想地说适合与各种各样的材料和样本大小,为在范围的其他系统是太大或重的特别是那些。系统有三个互换性的来源;225 kV反射靶、180 kV传输目标和任意225 kV转动的目标。与大范围平板探测器结合选择从,ST系统提供为质量实验室、生产设施和研究部门的一个灵活的工具。
好处:
业主225 kV microfocus与3 µm焦斑大小的X-射线来源
容易的系统操作
提供最大洞察的惊人图象
高性能图象承购和容量处理
直接的检查自动化
由设计的安全
低费用归属
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