X射线检测机 XT H 450

断层扫描用于材料用于 CND

nikon计量学X-射线ct计算机控制X线断层扫描术XTH450The XT H 450系统提供必要的来源力量通过高密度零件击穿和引起消散自由的CT容量与微米准确性。系统对优选X-射线的汇集，无需夺取不受欢迎的疏散X-射线的一台平板或业主弯曲的线列阵(CLA)探测器是可利用的。 这台线性探测器通过避免图象污染和伴生的对比减少体会惊人的图象锋利和对比。450 kV和CLA对小到中金属合金涡轮叶片和casted零件的检查是理想的。