光学三维测量机 OptiLux SD

用于航空工程

完全地客观抓痕开掘计量学和光学表面证明系统 我们的OptiLux抓痕开掘系统为需要精确地评估和核实不同的视觉组分的抓痕开掘缺点的工业光学制造者被设计。它通过结合高分辨率传感器头给抓痕开掘检查过程的完全控制以精确度X - Y的行动系统提供一个全自动，操作员独立表面测量和分析惯例。高度反复性的这和可追踪的过程提供非争议的抓痕开掘质量管理，以及限制减少偶然损伤的风险对易碎的表面的相当数量组分处理。反复性的结果的准确性，技术员能知道多么接近缺点什么时候什么时候是对分级的界限，给他们提炼他们的生产过程，例如通过确切知道停止和持续擦亮为了符合非常易碎的表面的表面规格。抓痕开掘检查过程的这直接自动化有对减少前置时间和生产成本的重大影向。