荧光光谱仪 SPECTRO XEPOS

X 射线用于航空航天业能量散射X射线荧光

SPECTRO XEPOS能量色散X射线荧光（ED-XRF）光谱仪为满足高要求应用而设计，拥有卓越的新性能水平，重新定义了ED-XRF分析 杰出的灵敏度带来高达3倍的精度改进——这是分析维量到主量元素含量时高准确性的基础 可以检测到极低的痕量元素：自适应激发、前沿的X光管设计和高计数率的检测系统显著降低了多种元素（通常为1/3）的检测极限 掌握未知：Turboquant II软件工具提供一种非凡的能力——分析未知样本，不管是液体、固体还是粉末状，无论是树叶、塑料、油品、石墨还是草…… 新型SPECTRO XEPOS光谱仪代表了能量色散X射线荧光技术上的巨大突破。它带来主量、微量和痕量元素含量水平多元素分析方面的突破性进展。激发和检测方面的新发展实现了杰出的灵敏度和检测极限——大幅提高精确性和准确度。 SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和废物检测以及科研和高校。 不同版本优化了特定基体中所含特定元素组的性能。创新的X射线管和独特的新型自适应性激发技术造就高灵敏度，全面优化所选的目标元素。