玻璃厚度测量仪 EddyCus® TF lab 4040SR

用于膜非接触式用于航空工程

EddyCus® TF lab 4040系列专门用于中等尺寸基材的非接触单点测量。这个灵活适用的台式设备可以根据其设置精确手动测量片状电阻、金属厚度、光学透明度或电（各向同性）。最常见的应用包括测量透明和非透明的导电薄层、晶圆或金属片。 亮点 非接触、实时、坚固 准确和非常可重复的测量 测量质量高，不受任何影响。 均匀的接触质量 钝化/封装 粗糙度 对敏感层没有伤害 精确测量 传统的导电薄膜 网格和导线结构 多层系统 隐藏和封装的导电层 无磨损 软件指导下的人工测绘，可实现系统化的质量保障 许多测量数据的保存和输出功能 节省空间的智能显示器集成（用于每个触摸屏的测量和数据评估 使用客户程序的软件开发包测试自动化 类型 该设备可以配备不同的传感器，包括用于电气表征的涡流传感器或用于光学表征的传感器。该设备平台的变体涉及以下选项。