玻璃厚度测量仪 EddyCus® TF lab 2020RM

用于膜非接触式用于航空工程

EddyCus TF dep（深度剖析器）是一个独特的工业涡流测量设备，利用从10kHz到100MHz的频率，专门用于平面试样的表征。测量频率的变化可以控制穿透深度。高频率的测量有利于表征散装材料和薄膜的近表面材料特性。此外，灵敏度随着测量频率的增加而增加。因此，非常低的导电材料和层也可以被表征。此外，该设备支持通过利用多频率测量生成深度剖面。测量参数为电导率和相关特性。 应用和设置 对具有不同穿透深度的散装材料进行电导率测试 材料分选 非导电材料上导电层的金属层厚度测试 导电材料上的油漆厚度测定（掀开）。 表征材料特性，如高导电性和低导电性材料的近表面薄层的硬度或微结构 系统特点 根据测量任务（穿透深度、光斑大小、灵敏度）定制的传感器集成 测量范围：200 x 200 mm；在中心测量 对试样的定位帮助 用于数据跟踪和数据输出的用户友好型软件