CT扫描仪 Phoenix V|tome|x S240

用于航空工业检查用于度量

具有极高灵活性和效率的工业 microCT 和 nanoCT 扫描仪 检测技术的进步为 2D X 射线检测和 3D 计算机断层扫描（microCT 和 nanoCT®）以及 3D 计量带来了一款多功能的高分辨率系统。 由于 microCT 扫描速度提高了 2 倍，分辨率也提高了一倍，现在对小型资产的 CT 扫描比以往任何时候都更加高效。 无论您是需要提高速度，检测细节，还是两者，Baker Hughes 旗下 Waygate Technologies 的 Phoenix V|tome|x S240 都能很好地完成任何 3D 工业或科学 microCT 任务。这款 CT 扫描仪特别适用于应对电子、研发、科学和汽车行业的检测挑战。 为了实现高度的灵活性，V|tome|x S240 可以选配 180 kV/20 W 高功率纳米聚焦 X 射线管和 240 kV/320 W 微聚焦 X 射线管。 由于这种独特的组合，该系统是多种应用的理想工具，适用于低吸收能力材料的超高分辨率 nanoCT 扫描（细节检测能力达到 0.2 微米），以及对重达 15 kg、直径达 500 mm 的高吸收性物体进行 3D 分析（使用 microCT）。 于 2003 年推出时，是首款实验室规模的高分辨率 micro 和 nanoCT® 系统。 凭借其独特的 Dual|tube（双管）配置选项，它迅速成为备受世界各地研究机构和质量实验室青睐的 CT 系统。 随着新一代创新型系统的问世，客户将获得更强大的功能以及该 2D 检测和 3D CT 系统前所未有的多功能性，不仅分辨率高、简单易用、可靠，而且还具有出色的性价比。 主要优势包括： 可选择多种配置。 可实现灵活的开放式纳米聚焦-微聚焦双管组合（180 kV/20 W 大功率纳米聚焦 X 射线管和 240 kV/320 W 微聚焦管） 根据检测任务的不同，有 3 种检测仪可供选择，例如，DXR S100 Pro 具有 2,500 x 3,000 像素，100 μm 像素尺寸，具备卓越的分辨率和出色的检测能力 超级可靠。 灯丝寿命延长 10 倍，通过长寿命灯丝确保长期稳定性，优化系统效率。 能够在不影响图像质量的情况下提高速度。 采用 diamond|window（菱形窗口），在相同的高图像质量水平下，数据采集速度可提高 2 倍 通过可选的 offset|scan（偏移|扫描）和 helix|scan（螺旋|扫描）功能，最大限度地提高了扫描灵活性 高结果质量下的高吞吐量：Phoenix V|tome|x S240 是全球为数不多的将高效的 Dynamic 41 检测仪技术和 High-flux|target 结合起来的 CT 系统之一 实现了高图像质量：因为它的扫描速度更快，并具有更高的准确度 全面的 2D 检测能力：带机械手倾斜轴 (+/-45°)，以实现高度灵活的放射线探伤 Flash！图像优化：新一代卓越的缺陷检测，可根据 2D 电子器件 和铸件检测进行优化