世界上最灵活的工业双管微型/纳米 CT 扫描仪
使用全新的 Phoenix V|tome|x M Neo,探索无损检测的未来。
我们的旗舰计算机断层扫描解决方案在灵活性、速度和检测质量方面树立了新的标准,使其成为各行各业广泛应用的最终选择。
体验 Phoenix V|tome|x M Neo 带来的广泛优势
在样品重量增加的情况下,样品尺寸范围更广
装载和卸载更轻松、更快速
简化维护,提高生产率,减少停机时间
提高灵活性、速度和检测质量
特点
先进的成像和分析功能
- 高性能微焦和纳焦管
- 水平方向的双管设置改进了图像采集
- 独有的动态 41 探测器
- 高通量靶技术,扫描速度更快
适用性强的解决方案
易于进入的维护门
重新设计的机械手可实现高效率
无障碍设计
两个大型滑动门,操作方便
可通过内部或外部起重机灵活装载
多功能控制面板
扩大扫描区域,可扫描较大和较重的部件
扫描区域扩大,适用于检测小型和大型部件
可变焦距探测器
效率驱动型自动化
通过 X|approver 软件实现自动缺陷识别 (ADR) 工作流程
配备最新的 Datos|x 软件,可全面控制数据采集,更快地重建数据
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