温度试验箱 ShockEvent

飞行用于航空航天业

Weiss Technik Shock Event温度冲击试验箱可以对电子产品及其元件的功能和可靠性进行交替的低温和高温测试。相对于标准的温度测试，我们的热循环试验箱能产生从-80°C到+220°C的极快温度变化，突出潜在的薄弱点，帮助你减少早期故障，提高产品的可靠性。 我们知道什么对您的测试很重要：可靠、精确和可重复的测试。我们在设计测试室时牢记这一点，依靠我们全面的专业知识和多年的经验，在设计阶段消除任何干扰因素。我们只使用高质量的材料，并在整个生产过程中定期进行质量检查，以确保我们为您提供高质量的温度试验箱。 环境条件对电子元件、设备和系统的功能和可靠性有很大影响。为了在最短的时间内发现潜在的弱点，典型的温度测试往往是不够的；测试样本必须经受多次突然的温度变化。 通过我们的ShockEvent系列，可以实现从-80 °C到+220 °C的极快温度变化。为此，我们提供了阻尼器冲击试验箱的解决方案，该试验箱具有固定的试验空间，包括用于3区试验的环境温度，或者配有移动吊笼的经典垂直冲击试验箱。因此，您可以减少早期故障，提高产品的可靠性。