霍尔效应的本质:当固体材料中的载流子在外加磁场中运动时,由于洛伦兹力的作用,其轨迹发生偏移,在材料的两侧发生电荷积累,形成垂直于电流方向的电场;最后,载流子的洛伦兹力与电场的排斥力相平衡,从而在两侧建立稳定的电位差,即霍尔电压。
Dexinmag系列霍尔效应测试系统的实验结果同时由软件自动计算,如块状载体浓度、片状载体浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、磁阻等重要参数。
载体浓度
10³cm-³ - 10²³cm-³
迁移率 - 0 .1 cm²/伏*秒 - 10⁸cm²/伏*秒
电阻率范围
10-⁷欧姆*厘米 - 10¹²欧姆*厘米
霍尔电压 - 1 uV - 3V
霍尔系数
10-⁵ - 10²⁷cm³/ C
可测试的材料类型 - 半导体材料 - SiGe、SiC、InAs、InGaAs、InP、AlGaAs、HgCdTe和铁氧体材料等。
低电阻材料 - 石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR材料等。
高电阻材料 - 半绝缘的GaAs、GaN、CdTe等。
材料导电颗粒--P型和N型材料的测试
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